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紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)生產(chǎn)廠家為您介紹使用如何檢修
  • 發(fā)布日期:2016-03-01      瀏覽次數(shù):1971
    •  今天紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)生產(chǎn)廠家為您介紹使用紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)如何檢修?
        
        1、聯(lián)機(jī)問(wèn)題:
       ?、佟⒅匦麻喿x用戶使用說(shuō)明書(shū)中關(guān)于聯(lián)機(jī)的部分,按照說(shuō)明書(shū)上的步驟重新做一遍。
        ②、確認(rèn)電腦與儀器的USB連接線是否聯(lián)好。
       ?、?、確認(rèn)電腦中是否有兩個(gè)或兩個(gè)以上的本儀器應(yīng)用軟件在工作,電腦是否死機(jī),(電腦注銷(xiāo)或重新啟動(dòng))。
       ?、堋⒋_認(rèn)有沒(méi)有其它軟件占用此串行口(關(guān)掉此應(yīng)用軟件)。
       ?、?、確認(rèn)儀器已經(jīng)自檢完畢,屏幕上有沒(méi)有顯示“聯(lián)機(jī)字樣”(關(guān)掉儀器重新啟動(dòng))。
       ?、?、確認(rèn)是否在電腦上插上儀器應(yīng)用軟件的加密狗。
        ⑦、電腦串行口是否已損壞(重新?lián)Q臺(tái)電腦試一下)。
       ?、?、應(yīng)用軟件是否對(duì)。
       ?、?、與供應(yīng)商或廠商的技術(shù)員。
        
        2、穩(wěn)定性問(wèn)題:
        紫外區(qū)(190nm-339nm)不穩(wěn):
        A、預(yù)熱時(shí)間未到30分鐘,多預(yù)熱一會(huì)兒。
        B、波長(zhǎng)出錯(cuò)引起的,(選擇系統(tǒng)校正,分別做一次暗電流校正和波長(zhǎng)校正。注意自檢時(shí)樣品室蓋要蓋好,樣品室中不能放任何東西,四聯(lián)樣品池架停在一個(gè)固定的檔位上)。
        C、檢查、計(jì)算一下氘燈的壽命是否已到(一個(gè)氘燈的壽命約為2000小時(shí))。
        
        紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的檢修:
        
        1、光源:紫外可見(jiàn)區(qū)的光源主要采用鹵素鎢燈和氘燈或氙燈兩者組合使用。氙燈是新穎的光源,發(fā)光效率高,強(qiáng)度大,而且光譜范圍寬,包括紫外、可見(jiàn)和近紅外。隨著發(fā)光二極管(LED)光源技術(shù)及產(chǎn)業(yè)的日益成熟,以LED為光源的小型便攜又低廉的分光光度計(jì)已成為研究開(kāi)發(fā)的熱點(diǎn)。
        2、分光系統(tǒng):掃描光柵型的分光系統(tǒng)常稱為單色儀.固定光柵型的分光系統(tǒng)則接近攝譜儀。單色儀大多布置在樣品室之前,固定光柵型則必須把分光系統(tǒng)置于樣品室之后。掃描光柵型主要有單光束、準(zhǔn)雙光束和雙光束.還有雙波長(zhǎng)等多種光路設(shè)計(jì)。為了進(jìn)一步地提高分辨率或降低雜散光,還出現(xiàn)了雙單色器分光光度計(jì),其雜散光等性能是單單色器分光光度計(jì)無(wú)法企及的。
        3、光柵:光柵是分光系統(tǒng)的核心元件.經(jīng)歷了棱鏡、機(jī)刻光柵和全息光柵的過(guò)程.商品化的全息閃耀光柵已迅速取代一般刻劃光柵。光柵一般有平面光柵和凹面光柵兩種。全息技術(shù)的長(zhǎng)處在于成品率更高,雜散光更小,不產(chǎn)生偽線。目前,凹面光柵已發(fā)展出四種類(lèi)型。其中的Ⅳ型可用于掃描光柵型中。因?yàn)榧婢呱⒑途劢箖身?xiàng)功能,使用凹面光柵可以幫助簡(jiǎn)化掃描光柵型分光光度計(jì)的結(jié)構(gòu)。Ⅲ型常稱為平場(chǎng)型,它能使凹面光柵的像面從通常的羅蘭圓變成平面,還可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)消像散的設(shè)計(jì)。這對(duì)于固定光柵的光路不僅是必需的,也使固定光柵型分光光度計(jì)的分光系統(tǒng)簡(jiǎn)約到了*。
        4、探測(cè)器:探測(cè)器對(duì)分光光度計(jì)的設(shè)計(jì)和性能有著重要的影響。在傳統(tǒng)的紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)中,一般都將光電倍增管作為檢測(cè)器,而隨著陣列型光電器件技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用,陣列型光電探測(cè)器分光光度計(jì)得到了很好的發(fā)展,其典型代表是PDA和CCD,這類(lèi)探測(cè)器測(cè)量速度快,多通道同時(shí)曝光,短時(shí)間僅在毫秒量級(jí),也可以累積光照.積分時(shí)間長(zhǎng)可達(dá)幾十秒,可探測(cè)微弱的信號(hào)、動(dòng)態(tài)范圍大。
     
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